Y ±300μm 自动清针 需要具备 测试机接口 GPIB 针痕检查功能 需要具备 SACC 自动换卡系统 Required 需要具备 支持晶舟类型 可支持FOSB和FOUP的晶舟类型 速度：一个lot（25片wafer）运行时间（不包含测试走位）小于900秒 e.需满足的服务要求：公司负责工程师对设备进行 ...